Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения

Авторы: Жу У., Уанга Ж.Л., «Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения»: Монография посвящена рассмотрению методов растровом электронной микроскопии (РЭМ) применительно к напотехпологиям н включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, по и технологию их изготовления in situ. 13 книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов и областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц. нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.